找回密码
 立即注册
搜索
热搜: 活动 交友 discuz
收藏本版 |订阅

IC测试与可测性 今日: 0|主题: 17|排名: 7 

作者 回复/查看 最后发表
隐藏置顶帖 求职招聘QQ群:895448634 ,微信群可以加群主:ictowncom 申请加入 精华1 fenchip 2024-7-8 0431 fenchip 2024-7-8 09:29
隐藏置顶帖 上海奋芯电子---专业IC版图外包服务 精华1 奋芯 2023-4-8 11988 admin 2023-8-2 10:49
  版块主题   
[求助] 请问如何得到v50/J750输入测试向量 恒裕 2024-3-27 0529 恒裕 2024-3-27 11:21
[求助] 一般芯片测试需要多少测试样本啊? 木色 2024-3-27 0412 木色 2024-3-27 11:19
[求助] 大家觉得VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability这本书如何 yuns 2024-3-27 0455 yuns 2024-3-27 11:18
[求助] 流片回来的数字芯片一般怎么测试啊? yuns 2024-3-27 0468 yuns 2024-3-27 11:17
[求助] PLL Build In Self Test有谁搞过啊? yuns 2024-3-27 0546 yuns 2024-3-27 11:08
[求助] 如何做高温老化测试? 木色 2024-3-27 0457 木色 2024-3-27 11:07
[求助] 在mentor的MBSIT中memory模型的不同写法区别? 恒裕 2024-3-27 0421 恒裕 2024-3-27 11:06
[求助] IC测试方法 木色 2024-3-27 0364 木色 2024-3-27 11:05
[资料] 测试工程师知识 恒裕 2024-3-27 0360 恒裕 2024-3-27 11:03
[求助] 为什么scan跑的频率不能很高呢? yuns 2024-3-27 0402 yuns 2024-3-27 10:56
[求助] 请教关于漏电流测试问题 yuns 2024-3-27 0409 yuns 2024-3-27 10:55
[求助] 请教数字电路用ATPG生成高故障覆盖率的PATTERN比较熟悉的 zhengmu 2023-7-22 0681 zhengmu 2023-7-22 07:37
[求助] 有谁懂delay fault test 的吗 pqzhu 2023-5-19 0600 匿名 1970-1-1 08:00
[讨论] 关于set_dft_signal里的参数的问题 新人帖 hqin 2023-5-19 0631 匿名 1970-1-1 08:00
[求助] 请教ATE测试中VCD文件转换问题 lyl 2023-5-19 0614 匿名 1970-1-1 08:00
[求助] 基与ATE的DSP芯片的测试 liuya 2023-5-19 0644 匿名 1970-1-1 08:00
[求助] 急!DFTC时,是不是需要在源RTL代码上添加好测试端口? szyac 2023-5-19 0592 匿名 1970-1-1 08:00

快速发帖

还可输入 250 个字符
您需要登录后才可以发帖 登录 | 立即注册

本版积分规则

QQ|Archiver|手机版|小黑屋|EDA1024技术论坛

GMT+8, 2024-10-6 14:52 , Processed in 0.029231 second(s), 13 queries .

Powered by Discuz! X3.5

© 2001-2024 Discuz! Team.

返回顶部 返回版块